[재료분석실험] STO-CTO system에서 첨가량에 따른 구조변화 및 격자상수 변화

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소개글
[재료분석실험] STO-CTO system에서 첨가량에 따른 구조변화 및 격자상수 변화에 대한 자료입니다.
목차
1. 실험목적

2. 이론적 배경

2. 1. 시료의 특성

2. 2. XRD

2. 2. 1. X-ray

2. 2. 2. Bragg's Law

2. 2. 3. Laue condition

2. 2. 4. Scherrer equation

2. 2. 5. XRD 개요

2. 2. 6. Slit

2. 2. 7. XRD분석법의 종류 (분말법)

2. 3. JCPDS카드

3. 실험과정

3. 1. 시편 제작

3. 2. XRD 측정

4. 실험결과 및 분석

5. 결론

본문내용
2. 2. XRD
그림 2) X-선 발생
2. 2. 1. X-ray
오른쪽 그림 (2)과 같이 X-선(X-Rays)의 생성은 진공 중에서 고전압에 의하여 가속된 초고속의 전자(Electron)를 만들어 음극(Target)에 충돌시킴으로서 발생한다. 또한 고속으로 충돌된 전자의 운동에너지 중 X선(X-Rays)의 에너지로 변환되는 비율은 일반적으로 0.1% 정도로 아주 작으며 대부분은 열로 변환된다. X선관(X-Ray Tube) 에서 얻을 수 있는 최대 X선량은 Target 원소의 용융점과 열전도도에 의해 좌우된다. 일반적으로 Target 은 Cr, Fe, Co, Cu, Mo, Ag, W 등이 있으며, Cu가 가장 많이 사용된다. Target 에서 발생된 열은 냉각수에 의하여 냉각 시켜야 한다.


2. 2. 2. Bragg's Law
규칙적으로 배열된 임의의 결정이고 원자가 간격 d를 가지고 평행한 격자면을 가진 결정에 파장 λ인 X선을 입사각 로 주사하면, X선은 원자에 의해 모든 방향으로 산란된다. 이때 입사하여 반사된 두 X선의 위상이 반대라면 상쇄간섭이 일어나 그 양이 현저히 줄어들 것이고 위상이 정확히 같다면 보강간섭이 일어나 반사되는 X-선의 세기가 증가될 것이다. (그림 3)
그림 3) bragg's law

이 현상을 회절현상이라 하고 입사한 X선의 파장이 λ, 입사각 , 격자면 간격 d 사이에는 다음과 같은 식이 성립된다.
참고문헌
(1) http://www.sqeng.co.kr/data/x-ray.pdf
(2) http://commons.wikimedia.org/wiki/File:Loi_de_bragg.png
(3) http://spintronics.inha.ac.kr/lecturenote/surface022/XRD.ppt
(4) http://www.softdisc.co.kr/
(5) www.htskorea.com/technote7/data/board/kkkinfo4/file_in_body/1/xrd.pdf XRD특징
(6) http://phys.kookmin.ac.kr/~xray/xrd/xrd.html
(7) http://www.ap.cityu.edu.hk/ceramicLab/images/XRD_Bruker.jpg
(8) www.busanhicom.re.kr/?page=msgs/download&print=1&blankPage=1&filename=
files/378a144a596dfa3a3cb30765dfde4813/0/38/X%BC%B1%B1%E2%BC%FA%BA%B8%B0%ED%BC%AD3.hwp jcpds